Testsystemet för sekundär bildseparation – labbversion

Kort beskrivning:

Secondary Image Separation Test System är ett oberoende mätsystem som utför bildseparationsdetektering i kameraområdet och andra delar av glaset.
Secondary Image Separation Test System-Lab-versionen kan testa det sekundära bildseparationsvärdet för dedikerade punkter vid olika betraktningsvinklar på den specificerade installationsvinkeln med visionsystemvägledning. Systemet kan visa larm för överskridande, spela in, skriva ut, lagra och exportera testresultatet.


Produktdetaljer

Produkttaggar

Specifikation

1

Secondary Image Separation Test System är ett oberoende mätsystem som utför bildseparationsdetektering i kameraområdet och andra delar av glaset.
Secondary Image Separation Test System-Lab-versionen kan testa det sekundära bildseparationsvärdet för dedikerade punkter vid olika betraktningsvinklar på den specificerade installationsvinkeln med visionsystemvägledning. Systemet kan visa larm för överskridande, spela in, skriva ut, lagra och exportera testresultatet.

2

Grundläggande parametrar

Prover

Provstorleksområde: 1,9*1,6m/1,0*0,8m (anpassad)

Provbelastningsvinkelområde: 15°~75° (Provstorlek, lastvinkelområde, mätområde och mekaniskt systemrörelseområde kan anpassas enligt kraven.)

Betraktningsvinkelområde: Horisontell vinkel-15°~15°, Vertikal vinkel-10°~10° (anpassad)

Prestanda

Enpunktstest repeterbarhet:0,4' (separationsvinkeln för sekundära bilder <4'), 10% (4'≤ sekundärbildsseparationsvinkeln <8'), 15% (separationsvinkeln för sekundärbilden≥8')

Provladdningsvinkel: 15°~75° (anpassad)

Testsystemet för sekundär bildseparationParametrar

Mätområde: 80'*60'

Min. värde:2'

Upplösning: 0,1'

Ljuskälla: Laser

Våglängd: 532nm

Effekt: <20mw

VisionSsystemParametrar

Mätområde: 1000mm*1000mm Positionsnoggrannhet: 1 mm

Mekaniska systemparametrar (anpassade)

Provstorlek: 1,9*1,6m/1,0*0,8m;

Provfixeringsmetod: övre 2 punkter, nedre 2 punkter, axisymmetrisk.

Installationsvinkelbas: planet som bildas av fyra fasta punkter på provet

Justeringsområde för provladdningsvinkel: 15°~75°

X: den horisontella riktningen

Z: den vertikala riktningen

X-riktningsavstånd: 1000 mm

Avstånd i Z-riktning: 1000 mm

Max. översättningshastighet: 50 mm/sekund

Översättningspositioneringsnoggrannhet: 0,1 mm

 


  • Tidigare:
  • Nästa:

  • Skriv ditt meddelande här och skicka det till oss